第140章:FFL低线弧工艺(1 / 2)

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芯片制工艺就一层薄的纸,纸叫做SOP作指导书。

这一薄薄的,如果不把它破了,永远不道其中乾坤奥所在,永远都裹足不

一旦戳了,你过头一,就会得简单常,不尔尔,就是一小细节?可偏就是这不起眼小细节定了最的得失败。

不是深讨论,能够想晶圆切的裂纹题竟然是第一工序减造成的?磨轮选择成解决这问题至重要的素。

果没有现这个因,安切割的艺工程天天做DOE分,找最化的参,就是辕北辙事情了。

解决题的过其实就跟高手招的过,也是教大能求帮助过程,山论剑,八仙过,分外瘾。

好自己前安排假片验,要是收到客的晶圆验证的,估计少得有片晶圆废。

圆报废沉重地击客户信心,有可能成项目延误甚会出问。”朱是做键出身的,对工艺是很熟

过150μ出问?”辛大吃一,明月封测厂合的标就是这的,很芯片的高都超了200μ不要150μ。

起客户的POD(Pkge封装形图),的确富挑战性。

这一芯片塑外壳的度确实一般产要低,封外壳高度决了打线弧高,个产品弧高应不能超150μ

客户用的金线是0.8l的,比工厂常使用1l金线要细,计的时一定是虑到了应力对靠性的响。

外一个着的特是这一芯片第焊点跟二焊点距离也微远一

的时候,又细又弧度又的线弧,肯定无承受模的冲击,产生ireSeep,甚发生金线相互触引发短,不可免。

实说,样一款有挑战的芯片键合工开发,佟也没经验。

想到这,辛佟禁感慨托罗拉项目果不一般。

不过有挑战的项目,客户也会找明光封测代工了,毕竟明光的收并不低。

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